Предквалификационные измерения электромагнитных помех (ЭМП). Тестирование на физическом уровне. Тестирование материалов. Измерение фазового шума.

Решения для измерений ЭМП и испытаний на ЭМС

• Компания Agilent предлагает широкий выбор систем для выполнения предквалификационных измерений электромагнитных помех (ЭМП) и испытаний на соответствие требованиям по электромагнитной совместимости (ЭМС)

Решения для измерения фазового шума

• Тестирование генераторов, управляемых напряжением (ГУН), генераторов на диэлектрических резонаторах, кварцевых генераторов, синтезаторов, усилителей, преобразователей, а также измерение параметров непрерывных, импульсных и паразитных сигналов
• Анализаторы источников сигналов обеспечивают высокую производительность измерений и удобство использования при определении характеристик ГУН и других типов источников высокочастотных сигналов, а также измерении джиттера тактовых сигналов в высокоскоростных системах передачи данных

Решения для тестирования на физическом уровне

• Системы на основе векторных анализаторов цепей и рефлектометров во временной области позволяют решать сложные проблемы, связанные с обеспечением целостности сигналов в быстродействующих цифровых устройствах

Дополнительная информация на сайте производителя.

Всего: 3

	Название	Описание
	N6141A Приложение для ЭМС измерений	Программа N6141A позволяет создавать на основе анализаторов сигналов серии X систему для проведения предквалификационных испытаний, обеспечивающую более высокую чувствительность и точность, а также меньшие допуски на испытания.
	W6141A Приложение для ЭМС измерений для анализатора CXA	Программа W6141A позволяет создавать на основе анализатора сигналов CXA систему для проведения предквалификационных испытаний, обеспечивающую более высокую чувствительность и точность, а также меньшие допуски на испытания.
	Приемники для измерения ЭМП и анализаторы ЭМС	Прикладные программы для измерения ЭМП для анализаторов сигналов Agilent серии X позволяют выполнять предквалификационные измерения и диагностику разрабатываемых устройств, таким образом вы сможете обнаружить и исправить неполадки до того, как они попадут в испытательную камеру, и избежать дорогостоящих задержек из-за сбоев при испытаниях на соответствие.

Страницы: 1